Особенности:Измерения четырехзондовым методом (методом Кельвина) удельного и поверхностного сопротивления полупроводниковых или металлических образцов диаметром до 300 мм.Универсальный источник-измеритель (внесен в Госреестр СИ РФ).ПО «Кристалл» для автоматического расчета удельного и поверхностного сопротивления с учетом размеров образца согласно стандарту ASTM F84-99, разработанное ООО «Остек-Электро».Диапазон измерений от 1 мкОм/ до 100 МОм/ для поверхностного сопротивления, от 1 мкОмсм до 1 МОмсм для удельного сопротивления.Точность измерения — не хуже 0,3 %.Аксессуары:термостолик до +300 оС;столик с вакуумным прижимом (для измерения образцов 6048);экранирующая камера.
Напишите что вам нужно и получите предложения от проверенных поставщиков