Тестер FORMULA HF3 предназначен для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 256 и частотой функционирования до 200 МГц.
Область применения Тестеров — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая:
• испытания и исследования вновь разработанных типов микросхем
• производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные,
• периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные
• сертификационные испытания
• входной контроль
Напишите что вам нужно и получите предложения от проверенных поставщиков